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— 资料提供:影像显示科技知识平台 (DTKP, Display Technology Knowledge Platform) —
— 整理:林晃岩教授、郭权锋 —
基于无标记方法之波长尺度区域超分辨率成像
有限尺寸物体光学显微术(limited-size object microscopy, LSOM)可于远场条件下实现无标记之超分辨率成像,适用于任意形状之粒子;其唯一所需之先备知识仅为视野范围之有限尺寸。
经典光学绕射极限最早由Ernst Abbe于1873年提出,其限制影像系统之分辨率约为照明光波长的一半(λ/2)。此一极限在数十年间成为生物与材料科学研究之障碍,直至二十世纪末与二十一世纪初超分辨率技术(super-resolution techniques)的出现方得突破。超分辨率荧光(FL)显微术提供了根本性的解决方案,其中包括获得诺贝尔奖之技术,如受激放射耗竭(stimulated emission depletion, STED)与定位显微术。尽管此类方法取得显著成功,然其对荧光标记物之依赖导致光漂白与光毒性等固有限制。相较之下,无标记超分辨率(label-free super-resolution, LFSR)成像展现更广泛的应用潜力。然而,在LFSR中突破绕射极限仍属根本挑战,原因在于奈米尺度物体之光散射过程更为微弱,影像对比度有限,且光子数量受限。
无标记超分辨率(LFSR)成像之主要进展源于若干突破性创新,这些方法突破了Abbe极限所依据之远场线性光学范围,包括近场、非线性以及基于超颖材料之途径。在过去二十年间,LFSR成像之发展更为加速,尤以若干重要技术为代表:如渐逝波(evanescent waves)照明、超振荡(superoscillatory)光束、电浆子热点、光子奈米流(photonic nanojets)、光涡旋(vertices)与超结构光束;此外,亦包括基于纠缠光子的量子超分辨率成像、微球辅助奈米显微术(nanoscopy),以及深度学习驱动之扫描奈米显微术。
自1950年代以来,成像科学已由纯粹的光学研究领域拓展为一种信息传输问题,其核心在于需将物体之空间频率进行取样并以数字形式传送。在此框架下,Lukosz所提出之不变性定理指出,系统的信息容量由其自由度总数决定,而非仅由空间频宽所限定。自由度的数量涵盖空间因素(即空间频宽与视野尺寸之乘积)、时间因素以及噪声因素。最终,若能改变构成信息容量的要素(例如提升讯杂比),则分辨率极限可被突破,前提是对物体具备某些先验知识—如其有限尺寸。数十年来,此一成像概念始终是一项既诱人又令人困惑的技术挑战,原因在于其实现需极高精度,并且必须理解其应用所受之量子极限。
近日,Taeyong Chang、Giorgio Adamo与Nikolay I. Zheludev在Nature Photonics发表研究,提出有限尺寸物体显微术(limited-size object microscopy, LSOM),此为一种LFSR成像技术[2],能在无需任何奈米尺度物体先验知识的情况下,达到高至λ/8的空间分辨率,唯一的条件仅为成像区域小于0.8λ
× 0.8λ。其实验实作依赖多项设计特征,以确保在有限区域中重建影像之最高精确度。
首先,作者采用长椭球波函数(亦称Slepian–Pollak级数),作为有限区域频带受限成像之波传问题的最佳基底。此类函数本质上为有限傅立叶转换的特征函数。实验设计在于利用客制化光罩逐一提取并测量截断Slepian–Pollak级数的各项系数。这些光罩置于倒置显微镜之4f光学系统的傅立叶平面,并采用相干全反射照明,如图一a所示。选用Slepian–Pollak基底函数亦揭示有限尺寸物体显微术(LSOM)与先前研究之超振荡次波长聚焦之深层关联,因后者可视为LSOM的逆向过程。
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图一、有限尺寸物体显微术(LSOM)之实验展示及其基本界限[1][2]。a. 简化之LSOM实验装置示意图。样品以全反射照明,散射光由显微镜收集。于傅立叶平面中,透过可重构光罩结合共路径干涉单像素检测方案,测量Slepian–Pollak系数。b. LSOM性能之基本界限。最佳分辨率作为视野(FoV)、尺寸D及散射光子总数之函数。实验中所用之FoV(D = 0.8λ)已标示。c. 八个具不同形状、尺寸与对称性的铂奈米粒子之扫描式电子显微镜(SEM)影像(上排,比例尺:200 nm),与理想传统相干傅立叶影像(数值孔径NA = 0.9,第二排)、仿真LSOM影像(第三排)及实验LSOM影像(第四排)进行比较。相较于傅立叶成像,LSOM在解析能力上展现显著提升。实验影像之空间频谱(底排)显示其有效数值孔径达3.14。(a.u.,任意单位)。
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其次,作者采用基于信息论的方法,以分析突破经典绕射极限所需之精确度。他们证明,即使在小型、波长尺度的区域中,有限尺寸物体显微术(LSOM)亦需大量光子资源,并且必须在散粒噪声极限(shot-noise-limited)下测量足够多数量的Slepian–Pollak系数,如图一b所示。为了在不同形状的奈米尺度粒子上实现约λ/7的空间分辨率(图一c),需测量十三个Slepian–Pollak模态。
第三,研究团队建构了一套干涉式实验系统,以确保在高阶Slepian–Pollak系数的测定中具备足够精确度,其中相干照明扮演关键角色。此方法利用可重构光罩,每次选取一个参考模态与一个目标Slepian–Pollak模态,并同时聚焦于相机数组。仅使用对应于物体质心共轭位置的像素以检测干涉讯号,藉此消除其它通道的串扰。较强的模态作为参考,而目标模态的振幅与相位则透过八次不同光罩的序列测量加以重建。光学失真之补偿则透过已知校准物(用于二维成像的80奈米点)及不同相机像素来表征系统传输矩阵而实现。最终之LSOM影像乃由四个重建LSOM影像进行相干迭加,并透过蓝宝石立方体(图一a)沿四个不同方向照明,配合适当相位补偿而获得。
图一c所示之重建影像展示了有限尺寸物体显微术(LSOM)相较于传统显微术在分辨率上的优势,适用于不同形状与对称性的粒子。图一c底排清楚显示,重建LSOM影像之频谱带(黄色圆圈)对应之有效数值孔径(NA)为3.14,远超出绕射极限频谱带(红色圆圈)。此外,透过Siemens星形(图一中之样品5)测试亦确认在二维成像中所达成之分辨率约为λ/7。
当前,无标记超分辨率(LFSR)成像已可透过深度学习网络加以实现。相较之下,有限尺寸物体显微术(LSOM)的创新之处在于:其以纯粹基于信息科学的方法,于实验中展示超分辨率成像,而无需任何物体先验知识(除视野范围有限之外),亦不需系统训练。考虑到在面积大小为π(0.4λ)² 的区域中测得4 × 13个复数Slepian–Pollak系数,可合理推论图一c所示之成像结果与Nyquist取样定理相符。尤为重要的是,此超分辨率之展示并未依赖物体对称性与相位光罩之间的任何相关性,而是透过多重光罩实现,并在具备或不具备旋转对称性的粒子上均得到验证,如图一c所示。
尽管有限尺寸物体显微术(LSOM)之视野仅为波长尺度,其成像技术仍可应用于多种奈米物体,如孤立或聚集之奈米粒子、半导体芯片、奈米线、碳奈米管与量子点。该系统亦适合于整合传统宽场显微术与LSOM波长尺度区域成像之混合成像平台。为达到散粒噪声极限(shot-noise-limited)之检测,需采用具强参考光的干涉方法,这使LSOM装置更为复杂;然而,一旦完成组装,其常规操作即可简化。LSOM的后续应用亦需考虑视野外杂散光之不利影响,可透过于样品制备前表征此类散射加以减轻。藉由自动切换光罩可缩短数据获取时间。未来研究预期将进一步展示LSOM在生物医学LFSR成像中的潜力,涵盖次细胞结构、病毒与蛋白质,从而大幅拓展该方法之应用范畴。
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图二、有限尺寸物体显微术(LSOM)之实验分辨率与Slepian–Pollak系数检索精确度[2]。a. LSOM 之代表性点扩散函数(PSF,半高宽FWHM ≈ λ/6),与理想传统相干傅立叶成像(数值孔径NA = 0.9)相比。b. 利用奈米尺度Siemens星形样品(图一中之样品5)进行分辨率测试。沿符合Rayleigh判据之最小直径圆周的平均强度显示,相邻辐条之中心间距约为λ/7可被解析。θ表示圆周上某点之极角(插图)。比例尺:200 nm。c. 图一中所有样品(编号1–8)之Slepian–Pollak系数的实验测量(Exp.)之实部(Re)与虚部(Im),与模拟结果(Sim.)比较,显示在强信道与弱信道均具良好估计精度。每个彩色点对应不同通道;所有通道之Pearson相关系数ρ ≥ 0.82。各图中之连续曲线标示协方差矩阵(covariance matrix)的2σ椭圆。左上图之标记亦适用于其它七个样品。比例尺:200 nm。d. 计算|γi|²随模态阶数i之变化,量化Slepian–Pollak模态随阶数增加而讯号强度之下降。
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参考资料:
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[1] Astratov, V.N., "Label-free super-resolution imaging of wavelength-scale areas," Nat Photon 20, pages 361-363 (2026)
https://doi.org/10.1038/s41566-026-01883-6
DOI:10.1038/s41566-026-01883-6
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参考文献:
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[2] Chang, T., Adamo, G. & Zheludev, N.I., "Super-resolution imaging of limited-size objects," Nat Photon 20, pages 421-427 (2026)
https://doi.org/10.1038/s41566-025-01839-2
DOI:10.1038/s41566-025-01839-2
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